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Embedded-Testing mit System: Komplexität reduzieren, Qualität steigern

Effizientes Testen in Embedded-Projekten ist entscheidend, um Qualität und Zuverlässigkeit sicherzustellen. Doch nicht jedes Testziel erfordert dieselbe Testebene: Was teste ich auf welcher Ebene – und wie finde ich die optimale Methode für jedes Testproblem?

In diesem Vortrag klären wir, wie man Testmethoden und Simulationen passend auswählt und kombiniert, um wichtige Testziele wie Funktionalität, Safety, Robustheit, Variabilität und verschiedene Testpfade (Happy- und Unhappy-Path) effizient abzudecken. Reduktion der Komplexität und Priorisierung der Testentwicklung sind wichtig, um ein optimales Kosten-Nutzen-Verhältnis zu erreichen.

Anhand von Beispielen für die Test-Ebenen für Komponenten, HW/SW-Integration und Systeme zeigen wir verschiedene Testmethoden und Simulationen, sowie deren Vorteile, Nachteile und Aufwände.

Abschließend zeigen wir in einer Live-Demo, wie unterschiedliche Testmethoden und Simulationen erfolgreich angewendet und durch Continuous-Integration automatisiert werden können.